ナノレベルの測定機器や分析機器を搭載し、アクティブ除振で外部からの振動を抑えます。

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ナノスケールの振動を抑えるアクティブ除振システム

VAISシリーズはアクティブ除振システムです。コンフォーカル顕微鏡やAFM、SPMなどのナノスケールの測定システムを搭載し、外部からの振動による測定ノイズを低減します。装置や環境に合わせて特注対応も致します。